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PCT高溫高壓老化試驗箱磁性材料高溫高壓試驗箱測試說明:

用于評估非氣密包裝裝置在水蒸氣冷凝或飽和水蒸氣環(huán)境中抵抗水蒸氣的完整性。樣品在高壓下處于冷凝和高濕度的環(huán)境中，使得水蒸氣可以進入封裝，暴露封裝中的薄弱點，如分層和金屬化腐蝕。該測試用于評估新包裝結(jié)構(gòu)或包裝中材料和設計的更新。需要注意的是，本次測試中會出現(xiàn)一些與實際應用不一致的內(nèi)部或外部失效機制。由于吸收的水蒸氣會降大多數(shù)高分子材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度，當溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時，可能會出現(xiàn)不真實的失效模式。

外部引線錫短路:封裝外部引線因潮濕產(chǎn)生的電離效應，會引起離子遷移異常增長，導致引線間短路。濕氣引起的封裝內(nèi)部腐蝕:封裝過程中濕氣引起的裂紋給芯片表面帶來外部離子污染，經(jīng)過保護層針孔、裂紋、缺陷涂層等表面缺陷后。，它進入半導體原件，造成腐蝕和漏電流等。如果施加偏置電壓，則容易發(fā)生故障。

PCT高溫高壓老化試驗箱磁性材料高溫高壓試驗箱產(chǎn)品技術參數(shù):
控制方式:微機控制
內(nèi)箱尺寸:(mm) φ 240× D440



時間控制:發(fā)光二極管顯示
加壓時間:約45分鐘內(nèi)0.00 kg ~ 1.04 kgcm2
壓力范圍:0 ~ 2.5kg/cm2；(內(nèi)桶設計耐壓為3.5公斤/平方厘米)
壓力波動:0.02公斤
試驗條件:溫度121℃，飽和蒸汽壓1.04千帕2，
縱向上，祖ˇ終的維度都以實物為準。
時間范圍:000小時~ 999小時

PCT高溫高壓老化試驗箱磁性材料高溫高壓試驗箱符合標準:
1、IEC60068-2-66
2、JESD22-A102-B
3、EIAJED4701
4、環(huán)評/JESD22
5、GB/T2423、40-1997